泰琛測(cè)試為客戶(hù)提供解決生產(chǎn)和管理問(wèn)題所需的數(shù)據(jù)和技術(shù)手段,滿(mǎn)足客戶(hù)“低成本,高增值”的需求
利用工業(yè)CT或X射線(xiàn),在不損害樣品前提下,檢測(cè)樣品中是否存在缺陷或不均勻性,給出缺陷大小,位置,性質(zhì)和數(shù)量等信息。
通過(guò)對(duì)失效樣品進(jìn)行X射線(xiàn)掃描,找到內(nèi)部結(jié)構(gòu)的損壞之處,避免二次損壞樣品,目前工業(yè)CT掃描進(jìn)行失效分析已經(jīng)成為失效分析的發(fā)展方向。
工業(yè)CT掃描精度可以達(dá)到微米級(jí)別甚至納米級(jí)別,在不破壞樣品的情況下,迅速分析內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方法非工業(yè)CT莫屬。
對(duì)于內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜的產(chǎn)品,如何測(cè)量?jī)?nèi)部尺寸?工業(yè)CT行業(yè)給出了優(yōu)秀的解決辦法。
將掃描出來(lái)的數(shù)模三維建模,與標(biāo)準(zhǔn)圖紙模型進(jìn)行檢測(cè)比對(duì),為客戶(hù)提供快速高品質(zhì)尺寸測(cè)量創(chuàng)新方案設(shè)計(jì)。
對(duì)目標(biāo)產(chǎn)品掃描后進(jìn)行逆向分析,從而演繹并得出該產(chǎn)品的特性及技術(shù)規(guī)格等設(shè)計(jì)要素,以制作出功能相近,但又不完全一樣的產(chǎn)品。